2004 Jan 14 6
NXP Semiconductors
Product data sheet
High-speed double diode BAV74
Fig.7 Reverse recovery voltage test circuit and waveforms.
(1) IR
= 1 mA.
handbook, full pagewidth
trr
(1)
IF
t
output signal
tr
t
tp
10%
90%
VR
input signal
V = V I x RRF S
R = 50S
?
IF
D.U.T.
R = 50i
?
SAMPLING
OSCILLOSCOPE
MGA881
Fig.8 Forward recovery voltage test circuit and waveforms.
tr
t
tp
10%
90%
I
input
signal
R = 50S
?
I
R = 50i
?
OSCILLOSCOPE
1 k?
450 ?
D.U.T.
MGA882
Vfr
t
output
signal
V
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